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構成数 : 1
第I部 総論
物理実験の心得/測定値と誤差およびその取り扱い方/基本的な測定機器
第II部 各論
基礎的測定/超伝導体の電気抵抗測定/光交流法によるNiの比熱/エックス線の反射と干渉/ボルダの振り子による重力加速度/固体の線膨張率/プリズム分光計/熱の仕事当量/トランジスタの増幅特性/半導体の電気抵抗の温度依存特性/光電効果/オシロスコープで見る電気信号/地磁気の水平成分/Ewingの装置によるヤング率/顕微鏡による屈折率/熱電対/放射線の吸収/等電位線/比電荷/弦の振動
付録 国際単位系(SI)と主な物理定数
室蘭工業大学の物理学実験のテキスト。
| フォーマット | 書籍 |
| 発売日 | 2026年02月13日 |
| 国内/輸入 | 国内 |
| 出版社 | 学術図書出版社 |
| 構成数 | 1 |
| パッケージ仕様 | - |
| SKU | 9784780614527 |
| ページ数 | 152 |
| 判型 | A4 |

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