X線分析の進歩 44 X線工業分析48集

構成数 : 1

1. 追悼 宇高忠さんを偲んで
(テクノエックス)谷口一雄

I. 総説・解説
2. 絶縁性試料のSEM-EDX分析
(京大院工)澤 龍,今宿 晋,河合 潤
3. Peculiarities of the Planar Waveguide-Resonator Application for TXRF Spectrometry
(IMT RAS)V. K. Egorov, E. V. Egorov
4. 2012年X線分析関連文献総合報告
江場宏美,国村伸祐,篠田弘造,永谷広久,中野和彦,保倉明子,松林信行,森 良弘,山本 孝
5. 和歌山毒カレー事件の法科学鑑定における放射光X線分析の役割
(東理大理,JASRI/SPring-8*)中井 泉,寺田靖子*

II. 原著論文
6. Influence of Substrate Direction on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis
(Kyoto Univ.)Ying LIU, Susumu IMASHUKU, Deh Ping TEE and Jun KAWAI
7. トバモライト生成過程における前駆体C-S-Hゲルの構造
(旭化成,旭化成建材*)松野信也,名雪三依,菊間 淳,松井久仁雄*,小川晃博*
8. XRF Analysis of Soils Contaminated by Dust Falls
(AIST, Astec Tokyo*, Univ.Toyama†)Katsumi MARUMO†, Nobuhiko WADA*, Hideki OKANO* and Yuka ONOKI
9. 複合型X線光学素子を備えた微小部蛍光X線分析装置の開発と評価
(大阪市大院工)松矢淳宣, 辻 幸一
10. 角度分解XPS測定によるフォトレジスト膜表面重合フッ素化合物の深さ方向分析
(日本電子,茨城大工*,茨城大院理工**)飯島善時,久保田俊夫*,追中脩平**
11. 鉛L線とヒ素K線の重なりI-ヒ素のK線強度の変化
(京大院工*,リガク**)岩田明彦*,**,河合 潤*
12. 鉛L線とヒ素K線の重なりII-鉛のL 線強度比の変化
(京大院工*,リガク**)岩田明彦*,**,河合 潤*
13. デジタル・オシロスコープによる焦電結晶のX線発生時間変化測定
(京大院工)大平健悟,今宿 晋,河合 潤
14. 焦電結晶を用いた小型EPMAの製作
(京大院工)今西 朗,今宿 晋,河合 潤
15. 和歌山カレーヒ素事件鑑定資料の軽元素組成の解析
(京大院工)河合 潤
16. 蛍光X線分析とX線透過画像撮影機能を持つポータブルX線分析装置の開発
(若狭湾エネ研セ,一乗谷朝倉氏遺跡資料館*,モンゴル科技大†,福井県埋蔵文化財調査セ)安田啓介,Chuluunbaatar Batchuluun††,川越光洋*††
17. 高エネルギー放射光蛍光X線分析を利用した古代土器の産地推定
(東理大理)河野由布子,黄 嵩凱,阿部善也,中井 泉
18. 蛍光X線分析を用いたサトイモの微量元素分析と産地判別への応用
(東理大理,農林水産消費安全技術セ*,農業・食品産総研機構食品総合研**) 岩崎美穂,今井晶子,中村 哲*,鈴木忠直*,**,中井 泉
19. 佐賀県鳥栖市出土の古代ガラスに関する考古化学的研究
(東理大理,熊本県立装飾古墳館*)松崎真弓,白瀧絢子,池田朋生*,中井 泉
20. ハンドヘルド型蛍光X線分析装置を用いた汚染地域における植物と土壌の分析
(東理大理,テクノエックス*)岡部哲也,Tantrakarn Kriengkamol*,阿部善也,中井 泉
21 ニュースバル多目的ビームラインBL10 における軟X線吸収分析(2);前置ミラーの炭素汚染除去による分光特性の向上と工業ゴムの軟X 線吸収分析への適用
(兵庫県立大院工,兵庫県立大高度産業科技研*)村松康司,潰田明信,植村智之,原田哲男*,木下博雄*
22. 非酸化物試料のガラスビード法による蛍光X線分析―ファンダメンタル・パラメータ法による炭化ケイ素の定量分析―
(リガク)渡辺 充,山田康治郎,井上 央,片岡由行
23. 焦電結晶を用いた密封系小型高電場発生ユニットの製作と電場触媒反応への応用に向けた試み
(徳島大院総合科学教育*,徳島大総合科学**,徳島大院SAS***)山岡理恵*,坂上知里**,馬木良輔**,山本 孝*,**,***
24. X線回折法によるジルコニア結晶化過程に対する金属イオン添加効果の検討
(徳島大院総合科学教育*,徳島大総合科学**,徳島大院SAS***)寺町 葵*,山下和秀**,山本 孝*,**,***
25. 放射光蛍光X線を用いるヒ素超集積植物モエジマシダ(Pteris vittata L.)におけるヒ素およびセレン蓄積機構の解明
(東京電機大,フジタ*,理研**)花嶋宏起,北島信行*,阿部知子**,保倉明子
26. 絶縁物試料の転換電子収量XAFS測定における電位勾配の影響
(広島大院工,広島大放射光科研*)早川慎二郎,進 七生,廣川 健,生天目博文*

III. 国際会議報告
27. 第3 回モンゴルX線国際会議報告
(京大院工)河合 潤
28. 第13 回SARX2012 報告[2012年11月18-23日,コロンビア・サンタマルタ]
(リガク)岩田明彦
29. 第61回デンバーX線会議2012報告
(大阪市大院工)平野新太郎
30. EXRS 2012国際会議報告[2012年6月18日～22...