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構成数 : 1
I. 総説・解説
1. 2011 年X 線分析関連文献総合報告
江場宏美,篠田弘造,高山 透,永谷広久,中野和彦,原田雅章,前尾修司,松林信行,森 良弘,山本 孝
2. EPMA の定義と英和対訳版ISO規格へのコメント
(京大院工)河合 潤
3. 和歌山カレー砒素事件鑑定資料―蛍光X線分析
(京大院工)河合 潤
4. 合成化学研究室におけるX線結晶解析―多核金属錯体を中心に
(関西学院大理工)御厨正博
5. X線反射率解析における問題点とその改良
(神戸大研究基盤セ)藤居義和
II. 原著論文
6. 波長分散型蛍光X線分析による元素情報を利用した平行ビームX線回折法を用いた回折-吸収定量法の鎮痛剤への応用
(京大院工*,Rigaku Europe**)岩田明彦*,**,河合 潤*
7. The Compact TXRF Cell on Base of the Planar X-Ray Waveguide-Resonator
(IMT RAS)V.K. Egorov, E.V. Egorov
8. 低軟X 線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定
(立命館大SRセ,立命館大生命科学*)与儀千尋,石井秀司,中西康次,渡辺 巌,小島一男*,太田俊明
9. NEXAFS法を用いたスパッタリングc-BN薄膜の評価
(兵庫県立大高度産業科技研,兵庫県立大院工*)新部正人,小高拓也,堀 聡子*,井上尚三*
10. 毛髪のカルシウム含量と酸化状態のサブミクロン顕微マッピング
(東海大工,カネボウ化粧品*,早稲田大理工**)伊藤 敦,井上敬文*,竹原孝二*,瀧 慶暁,篠原邦夫**
11. 禁止帯領域で得られるスペクトルを用いたエネルギー非走査XPSの補正
(浜松ホトニクス)望月崇宏,里園 浩
12. N-K 吸収スペクトルにおけるTEY法およびTFY法での分析深さの評価
(兵庫県立大高度産業科技研)小高拓也,新部正人,三田村 徹
13. 蛍光X線分析法による鉱石及び土壌の化学分析
(産総研地質情報,東電設計*)丸茂克美,小野木有佳,野々口 稔*
14. 土器の蛍光X線分析―主成分酸化物の日常分析のための少量試料ガラスビードと,定量に関する幾つかの検討
(明治大理工)中山健一, 市川慎太郎, 中村利廣
15. 海水試料の全反射蛍光X線分析における試料準備方法の検討
(大阪市立大院工,住友金属工業*)吉岡達史,今西由紀子,辻 幸一,高部秀樹*,秋岡幸司*,土井教史*,荒井正浩*
16. SAGA-LSの現状とBL11でのXAFS測定の材料研究への展開
(佐賀県立九州シンクロ,九州大シンクロ*)岡島敏浩*, **,大谷亮太*,隅谷和嗣*,河本正秀*
17. Hard Disk Top Layer Analysis by Total Reflection X-Ray Photoelectron Spectroscopy (TRXPS)
(京大院工)Abbas ALSHEHABI, Nobuharu SASAKI, Jun KAWAI
18. 小型X線分析顕微鏡の開発
(堀場製作所*,大阪市立大院工**)駒谷慎太郎*,**,青山朋樹*,大澤澄人*,辻 幸一**
19. ランタン近傍元素(I, Cs, Ba, La,Ce, Pr, Nd)のLγスペクトル
(日本女子大)林 久史,金井典子,竹原由貴,大平香奈,山下結里
20. XPSによる帯電液滴照射と低速単原子イオン照射後の高分子材料表面解析
(日本電子開発,日本電子テクニクス*,山梨大クリーンエネ研**)飯島善時,成瀬幹夫*,境 悠治**,平岡賢三**
21. 蛍光X 線分析法による高強熱増量ガラスビードの定量分析―フェロシリコンへの適用例―
(リガク)井上 央,山田康治郎,渡辺 充,本間 寿,原 真也,片岡由行
22. 酸化ニッケル担持金触媒の状態分析
(九州大院理†,JST/CREST‡,九州大基幹教育*,JASRI/SPring-8**,京大原子炉***)西川裕昭†‡,川本大祐†‡,大橋弘範‡*,陰地 宏**,本間徹生**,小林康浩***,岡上吉広†,濱崎昭行†‡,石田玉青†‡,横山拓史†‡,徳永 信†‡
23. X線吸収分光法と197Au Mossbauer 分光法を組み合わせた金属酸化物担持金触媒のキャラクタリゼーション:金合金生成の確認
(九州大院理*,JST/CREST**,九州大基幹教育***,JASRI/SPring-8****,京大原子炉***** )川本大祐*,**,西川裕昭*,**,大橋弘範**,***,陰地 宏****,本間徹生****,小林康浩*****,濱崎昭行*,**,石田玉青*,**,岡上吉広*,徳永 信*,**,横山拓史
24. 蛍光X線分析法による寒天電解質中の金属イオンの拡散係数の測定
(福岡教育大)服部英喜,原田雅章
25. 貴重考古資料である「せん佛」のX線分析顕微鏡を用いた科学分析
(龍谷大理工)杉下知絵,藤原 学,松下隆之,池田重良
26. 中国古代紙史料である大谷文書紙片の科学分析
(龍谷大理工*,龍谷大古典籍デジタルアーカイブ研**)白澤恵美*,藤原 学*,**,江南和幸**,池田重良
27. X線分析による中央アナトリア鉄器時代の土器に使用された黒/褐色系顔料の特性化
(東理大理)五月女祐亮,黄 嵩凱,中井 泉
28. 科学捜査のための高エネルギー放射光蛍光X線...
本書は昭和39年(1964年)に『X線工業分析』として発刊され、第5集から『X線分析の進歩』として毎年刊行されているものである。内容は、解説と報文、その年度におけるX線分析関係の論文・行事の紹介、機器についての資料集など。わが国における業界の年鑑といえるものである。
| フォーマット | 書籍 |
| 発売日 | 2012年03月30日 |
| 国内/輸入 | 国内 |
| 出版社 | アグネ技術センター |
| 構成数 | 1 |
| パッケージ仕様 | - |
| SKU | 9784901496643 |
| ページ数 | 574 |
| 判型 | B5 |

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