X線分析の進歩 29 X線工業分析 33

構成数 : 1

I.総説
1. Advanced Light Source(ALS)における第三世代放射光を用いた
高分解能軟X線発光・吸収分光研究
(村松康司)

II.放射光利用:報文
2. 放射光を用いたXPSによる表面化学反応の解析
(木村 淳・近藤勝義・片山 誠・蟹江智彦・柴田雅裕)

3. 立命館大学小型放射光における超軟X線分光分析装置
(辻 優司・辻 淳一・中根靖夫・宋 斌・池田重良・谷口一雄)

4. 立命館大学小型放射光における軟X線分光分析装置
(中根靖夫・辻 淳一・辻 優司・宋 斌・小島一男・池田重良・谷口一雄)

III.蛍光X線分析・全反射蛍光X線分析:報文
5. Rh/WデュアルX線管を用いた低稀釈率ガラスビード法による岩石中の主成分,
微量成分および希土類の分析
(山田康治郎・河野久征・白木敬一・永尾隆志・角縁 進・大場 司・川手新一・村田 守)

6. エネルギー分散型X線反射率測定による銅フタロシアニン超薄膜の初期成長過程の
解明
(林 好一・石田謙司・堀内俊寿・松重和美)

7. 卓上型微小部蛍光X線分析装置を用いた河川水中の微量金属の定量
(杉原敬一・田村浩一・佐藤正雄)

8. 可搬型蛍光X線分析装置の開発
(平井 誠・宇高 忠・迫 幸雄・二澤宏司・野村恵章・谷口一雄)

IV.X線回折:報文
9. Ni-MH電池負極合金のその場X線回折
(岡本篤彦・木下恭一)

10. 粉末回折による高精度結晶構造解析法(NARIET法の開発)
(永野一郎・内埜 信・村上勇一郎・山本博一)

11. Rietveld法によるLn2NiO4+δ(La,Pr,Nd)の半導体-金属転移の解析
(渡辺鏡子・浅川 浩・藤縄 剛・石川謙二・中村利廣)

V.状態分析:報文
12. 水素プラズマエッチング後の高分子化合物表面のXPSによる評価
(飯島善時・田澤豊彦・佐藤一臣・大島光芳)

13. X線光電子分光による酸化物ガラスの電子状態の解明
(三浦嘉也・難波徳郎・松本修治・姫井裕助)

14. DV-Xα分子軌道計算およびX線発輝スペクトルによるTiO2価電子帯の研究
(宋 斌・中松博英・向山 毅・谷口一雄)

VI.X線利用の新領域:報文
15. 帯電によるX線の発生
(河合 潤・稲田伸哉・前田邦子)

16. 高電圧グロー放電管からのX線放射
(辻 幸一・松田秀幸・我妻和明)

17. X線域でのλ/2板と偏光XAFS測定への応用
(早川慎二郎・宇賀神邦裕・佐々木 功・宮村一夫・合志陽一)

VII.データ解析:報文
18. 統計学の手法による古代・中世土器の産地問題に関する研究(第2報)
――四国の初期須恵器の産地推定
(三辻利一・松本敏三・福西由美子)

VIII.EPMA:報文
19. MA処理によるW-C系固相反応のEPMA状態分析
(山田和俊・高橋輝男・元山宗之)

IX.技術報告
20. EPMA元素マップデータ処理システムの開発
(稲場 徹・古川洋一郎)

X.既掲載X線粉末回折図形索引

XI.1997年X線分析のあゆみ
1.X線分析関係文献集
2.X線分析関係国内講演会開催状況
3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
4.X線分析研究懇談会規約
5.「X線分析の進歩」投稿の手引き
6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1997年度運営委員名簿
7.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

XII.X線分析関連機器資料

XIII.既刊総目次

XIV.X線分析の進歩29 索引