X線分析の進歩 31 X線工業分析 35

構成数 : 1

I.報文
1. Al原子の規則配置に基づく空間群によるNa型フェリエライトの構造解析
(加藤正直・板橋慶治)

2. 実験室系高精度・高分解能平行ビーム法粉末X線回折装置の開発
(藤縄 剛・佐々木明登)

3. XPS測定時のポリ塩化ビニリデン損傷過程の検討
(飯島善時・末吉 孝)

4. チタン化合物のTi 2p X線光電子スペクトルからの非弾性散乱部の除去
(奥 正興・松田秀幸・我妻和明・古曵重美)

5. 斜出射X線回折による薄膜の構造評価
(高田一広・野間 敬・飯田厚夫)

6. コバルト(III)錯体の59CoNMRおよびX線光電子スペクトル
(藤原 学・門田知彦・山庄司由子・宮地洋子・松下隆之・池田重良)

7. 蛍光X線ホログラフィーの再現性
(佐井 誠・林 好一・河合 潤)

8. In-plane X線回折法によるSi薄膜の異方性評価
(松野信也・久芳将之・森安嘉貴・森下 隆)

9. 非晶質カーボン薄膜におけるCK X線発光・吸収スペクトルの特徴
(村松康司・廣野 滋・梅村 茂・林 孝好・R.C.C.Perera)

10. K,Ca,Rb,Sr因子からみた花崗岩類の地域差
(三辻利一・伊藤晴明・広岡公夫・杉 直樹・黒瀬雄士・浅井尚輝)

11. X線の吸収を利用した薄膜材料の破壊簡易定量法の開発
(北村洋貴・寺田靖子・中井 泉・中込達治・趙 毅・稲益徳雄・原田泰造)

12. 蛍光X線イメージングによるカマン・カレホユック遺跡出土彩文土器の顔料分析
(泉山優樹・松永将弥・中井 泉)

13. 種々のLi化合物におけるLi-K吸収スペクトル
(辻 淳一・小島一男・池田重良・中松博英・向山 毅・谷口一雄)

14. 光学系の改善によるEDXRFの検出下限値改善の試み
(美濃林妙子・山田昌孝・野村恵章・宇高 忠・谷口一雄)

15. 軽元素分析対応2励起源を有する可搬型蛍光X線分析装置の試作
(宇高 忠・野村恵章・美濃林妙子・二宮利男・谷口一雄)

II.ノート
16. ポリイミドフィルム点滴法による水溶液試料中微量金属分析
(杉原敬一・田村浩一・佐藤正雄)

III.既掲載X線粉末回折図形索引

IV.1999年X線分析のあゆみ
1.X線分析関係文献集
2.X線分析関係国内講演会開催状況
3.X線分析研究懇談会講演会開催状況
4.X線分析研究懇談会規約
5.「X線分析の進歩」投稿の手引き
6.(社)日本分析化学会X線分析研究懇談会1999年度運営委員名簿
7.「X線粉末回折図形集」の収集に御協力のお願い

V.X線分析関連機器資料

VI.既刊総目次

VII.X線分析の進歩31 索引